兒童智力測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)化程序
<!--?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" /-->
兒童智力測(cè)試儀鐘形曲線是一個(gè)顯示大約有多少人口下降到每一個(gè)智商范圍圖。在理論上，如果我們對(duì)世界上的每個(gè)人都有一個(gè)傳統(tǒng)的智力測(cè)驗(yàn)，大多數(shù)人會(huì)在“平均”的分?jǐn)?shù)。
一個(gè)較小的數(shù)字會(huì)得分略低于平均和適度高于平均水平。極高和極低的分?jǐn)?shù)是罕見(jiàn)的。分?jǐn)?shù)和百分位以上的申請(qǐng)，標(biāo)準(zhǔn)差為15分的測(cè)試。斯坦福大學(xué)的比奈第四版有16的標(biāo)準(zhǔn)偏差和韋氏智力量表。兒童智力測(cè)試儀通常用于天才兒童的篩選。為了彌補(bǔ)可憐的標(biāo)準(zhǔn)化程序，過(guò)時(shí)的項(xiàng)目，并使用心理測(cè)量學(xué)的不健全的比率智商，測(cè)試最近被修改和拓?fù)洹?/font>
我公司多年來(lái)秉承誠(chéng)信務(wù)實(shí)的原則，產(chǎn)品受到新老客戶(hù)的一致認(rèn)可好評(píng)，在此竭誠(chéng)期待廣大新老客戶(hù)的參觀選購(gòu)，期待與您合作。咨詢(xún)電話(huà)：0537-3166766
兒童智力測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)化程序 2014-11-6 本文被閱讀 2256 次
